Optimisation et maîtrise statistique des processus versus approche par ondelettes

TitreOptimisation et maîtrise statistique des processus versus approche par ondelettes
Type de publicationCommunication
TypeCommunication avec actes dans un congrès
Année2015
LangueFrançais
Date du colloque18-19/06/2015
Titre du colloque6èmes Journées Doctorales / Journées Nationales du GDR MACS (JD-JN-MACS)
AuteurCohen, Achraf , Tiplica, Téodor , Kobi, Abdessamad
PaysFrance
VilleBourges
Mots-cléscartes de contrôle, contrôle statistique, Detection, Haar, Ondelettes, plans d'expériences, rapport de vraisemblance.
Résumé en français

Dans cet article nous présentons trois nouvelles contributions portant sur l'utilisation des ondelettes dans le contexte de l'optimisation et la maîtrise des processus en qualité. Nous démontrons que la transformée en ondelettes discrètes orthogonales, en utilisant l'ondelette Haar, est équivalente aux cartes de contrôle Xbar-R, utilisées en qualité pour le suivi simultané de la moyenne et de la dispersion. Ensuite, nous présentons l'équivalence entre le rapport de vraisemblance pour détecter l'instant du changement d'une moyenne, et la transformée en ondelettes continues. Enfin, nous montrons que la transformation en ondelettes discrètes, en utilisant l'ondelette Haar, est exactement un schema d'un plan d'expériences complet de type 2^k.

URL de la noticehttp://okina.univ-angers.fr/publications/ua12636
Lien vers le document en ligne

http://jdjnmacs2015.sciencesconf.org/